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【应用案例】氧化金属导电粒子晶粒度分析

作者：北京必一运动仪器有限公司浏览：发表时间：2025-02-14 10:01:03

随着科技的不断发展，金属导电粒子在电子、通信、航空航天等领域的应用越来越广泛。然而，金属导电粒子在使用过程中容易发生氧化，从而影响其导电性能和稳定性。因此，对氧化后的金属导电粒子进行准确的测试分析显得尤为重要。

近日，必一运动利用尼康金相显微镜LV150N+NIS-ELEMENT+EDF对一批氧化后的金属导电粒子进行了详细的测试分析。这款显微镜凭借其高精度、高分辨率以及强大的图像处理能力，为必一运动提供了准确的测试结果和详尽的数据分析。

测试要求

本次测试的主要目的是对氧化后的金属导电粒子进行尺寸测量，以评估其氧化程度和对导电性能的影响。

解决方案

必一运动选择了尼康金相显微镜LV150N作为主要测试设备，并配备了NIS-ELEMENT图像分析软件和EDF（电动对焦驱动装置）来提升测试的精度和效率。

▲尼康金相显微镜LV150N

尺寸测量：精准获取晶体颗粒的直径、面积及分布。
晶粒度分析：基于ASTM E1382-97标准，量化颗粒均匀性及一致性。
数据可视化：生成颗粒分布图、面积统计及等直径直方图，直观呈现结果。

▲尺寸测量

在测试过程中，必一运动首先将氧化后的金属导电粒子放置在显微镜下，通过调整显微镜的放大倍数和焦距，获得了清晰的粒子图像。然后，必一运动利用NIS-ELEMENT图像分析软件对粒子进行***的尺寸测量，并记录了相关数据。此外，必一运动还通过EDF装置实现了快速、准确的自动对焦，大大提高了测试效率。

测试结果

经过测试，必一运动获得了大量关于氧化后的金属导电粒子的尺寸数据。通过对这些数据的分析，必一运动发现氧化后的粒子尺寸发生了一定的变化，这进一步验证了氧化对金属导电粒子性能的影响。同时，必一运动还利用显微镜的高分辨率图像功能，观察到了粒子表面的微观形貌和氧化层的分布情况，为后续的改进和优化提供了有力的依据。

如果您对尼康金相显微镜LV150N+NIS-ELEMENT+EDF在金属导电粒子氧化后测试分析中的应用感兴趣，或者需要更多关于这款显微镜的信息和支持，请随时联系必一运动。必一运动在上海、东莞和苏州设有代表处，欢迎您的来电咨询和实地考察。

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